Filtry
  • Kolekcje
  • Publikacje grupowe
  • Typ pliku
  • Autor
  • Współtwórca
  • Temat i słowa kluczowe
  • Data wydania
  • Typ zasobu
  • Język

Szukana fraza: [Tytuł = "Uncertainty of atomic force microscopy measurements"]

Wyników: 1

Obiektów na stronie:
Optica Applicata

Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja

2007
artykuł

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji