Filters
  • Collections
  • Group objects
  • File type
  • Date

Search for: [Title = Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films]

Number of results: 1

Items per page:
Optica Applicata

Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja

2005
artykuł

This page uses 'cookies'. More information