@misc{Cui_Li_A_2015,
 author={Cui, Li and Liu, Yi and Yu, Mei and Jiang, Gangyi and Fan, Shengli and Wang, Yigang},
 contributor={Urbańczyk, Wacław. Redakcja},
 identifier={DOI: 10.5277/oa150207},
 year={2015},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 description={Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2, s. 205-214},
 language={eng},
 title={A super depth of field height measurement based on local disparity},
 type={artykuł},
 keywords={optyka, microscopes, binocular vision, local disparity map, depth of field (DOF), height measurement},
}