@misc{Baklanov_Mikhail_R._Characterization_2000, author={Baklanov, Mikhail R. and Mogilnikov, Konstantin P.}, contributor={Gaj, Kazimierz. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja}, year={2000}, rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)}, publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej}, description={Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4, s. 491-496}, language={eng}, title={Characterization of porous dielectric films by ellipsometric porosimetry}, type={artykuł}, keywords={optyka}, }