@misc{Tiesler_Maciej_M._Quality_2002,
 author={Tiesler, Maciej M. and Witkowski, Jerzy S. and Abramski, Krzysztof M.},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja},
 year={2002},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 description={Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 1-2, s. 187-196},
 language={eng},
 title={Quality criterion for numerical methods in EDFA modelling},
 type={artykuł},
 keywords={optyka},
}