@misc{Tiesler_Maciej_M._Quality_2002, author={Tiesler, Maciej M. and Witkowski, Jerzy S. and Abramski, Krzysztof M.}, contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja}, year={2002}, rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)}, description={Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 1-2, s. 187-196}, publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej}, language={eng}, title={Quality criterion for numerical methods in EDFA modelling}, type={artykuł}, keywords={optyka}, }