@misc{Skipirzepski_Piotr_Optimization_1998,
 author={Skipirzepski, Piotr and Nowak, Piotr},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja},
 year={1998},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 description={Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3, s. 173-182},
 language={eng},
 title={Optimization of the optical granularity measurement conditions of model photographic layers},
 type={artykuł},
 keywords={optyka},
}