@misc{Sikora_Andrzej_Development_2013, author={Sikora, Andrzej}, contributor={Urbańczyk, Wacław. Redakcja}, identifier={DOI: 10.5277/oa130120}, year={2013}, rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)}, publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej}, description={Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 163-171}, language={eng}, title={Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change}, type={artykuł}, keywords={optyka, atomic force microscopy, material science, environmental tests, nanolithography, nanomarker}, }