@misc{Serafińczuk_Jarosław_Thin_2011, author={Serafińczuk, Jarosław and Pietrucha, Jakub and Schroeder, Grzegorz and Gotszalk, Teodor P.}, address={Wrocław}, access={Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku}, year={2011}, description={Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 315-322}, language={eng}, title={Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm}, type={artykuł}, contributor={Gaj, Miron. Redakcja}, contributor={Urbańczyk, Wacław. Redakcja}, rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)}, publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej}, keywords={optyka, X-ray reflectivity, thickness determination, Savitzky–Golay algorithm}, }