@misc{Serafińczuk_Jarosław_Thin_2011,
 author={Serafińczuk, Jarosław and Pietrucha, Jakub and Schroeder, Grzegorz and Gotszalk, Teodor P.},
 access={Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku},
 address={Wrocław},
 year={2011},
 description={Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 315-322},
 language={eng},
 title={Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm},
 type={artykuł},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja},
 contributor={Urbańczyk, Wacław. Redakcja},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 keywords={optyka, X-ray reflectivity, thickness determination, Savitzky–Golay algorithm},
}