@misc{Kołodziej_Andrzej_X-ray,_2011,
 author={Kołodziej, Andrzej and Baranowski, Witold and Kusior, Edward and Kanak, Jarosław},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Urbańczyk, Wacław. Redakcja},
 year={2011},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 description={Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 449-454},
 language={eng},
 title={X-ray, AFM, UV–VIS–IR analysis of a-Si:H/μc-Si:H supperlattice structure},
 type={artykuł},
 keywords={optyka, X-ray, atomic force microscopy (AFM), UV–VIS–IR analysis, nc-Si:H multilayer structure},
}