Zastosowanie spektroskopii EPR do badania powierzchni Si i powierzchni granicznej Si-SiO2 - Szuber, Jacek (Państwowe Wydawnictwo Naukowe, 1981)
Postępy Fizyki : dwumiesięcznik poświęcony upowszechnianiu wiedzy fizycznej, T. XXXII, 1981, z. 5, s. 463-472
Keywords: fizyka; czasopisma