Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy - Szyszka, Adam; Ściana, Beata; Radziewicz, Damian; Macherzyński, Wojciech; Paszkiewicz, Bogdan; Tłaczała, Marek (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011)
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 281-288
Keywords: optyka; scanning spreading resistance microscopy (SSRM); spreading resistance; GaAs; atomic force microscopy (AFM)