Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction - Chocyk, Dariusz; Prószyński, Adam; Gładyszewski, Grzegorz; Labat, Stephane; Gergaud, Patrice; Thomas, Olivier (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2002)
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 333-337
Keywords: optyka