Influence of the thermal annealing on hydrogen concentration in GaN layers – SIMS characterization - Jakieła, Rafał; Jasik, Agata; Strupiński, Włodzimierz; Góra, Krzysztof; Kosiel, Kamil; Wesołowski, Marek (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2002)
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 365-371
Keywords: optyka