Electrical and photoelectric characterization of the MOS structures on 3C–SiC substrate - Piskorski, Krzysztof; Przewłocki, Henryk M.; Esteve, Romain; Bakowski, Mietek (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011)
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 295-305
Keywords: optyka; silicon carbide (SiC); MOS structure; band diagram