Object

Title: Wysokość obciążeń podatkowych w ryczałcie ewidencjonowanym w porównaniu z zasadami ogólnymi

Title in english:

Differentiation of tax burden imposed on taxpayers compared to general principles

Creator:

Deresz, Agnieszka ; Podstawka, Marian

Description:

Prace Naukowe Uniwersytetu Ekonomicznego we Wrocławiu = Research Papers of Wrocław University of Economics; 2018; Nr 528; s. 43-55

Abstrakt:

Podniesieniu konkurencyjności mikro i małych przedsiębiorstw służy polityka podatkowa oraz strategie podatkowe, ułatwiające rozwój tych przedsiębiorstw. Jedną z nich jest wybór formy opodatkowania pozwalającej optymalizować strumień przepływów z tytułu płatności podatkowych. Podatnik może wybrać pomiędzy kartą podatkową, ryczałtem od przychodów ewidencjonowanych a opodatkowaniem wg zasad ogólnych, tj. wg stawki liniowej 19% lub wg skali podatkowej. Popularną formą opodatkowania wśród drobnych przedsiębiorców jest ryczałt od przychodów ewidencjonowanych. W artykule przedstawiono wynik analizy wielkości przychodów przedsiębiorców opodatkowanych ryczałtem ewidencjonowanym pod kątem czynników kształtujących jego wysokość, takich jak: przepisy podatkowe, liczba podatników. W opracowaniu przeprowadzono również analizę opłacalności opodatkowania podatkiem dochodowym od osób fizycznych w formie ryczałtu ewidencjonowanego w porównaniu z zasadami ogólnymi. Okres badawczy obejmuje lata 2012-2016

Publisher:

Wydawnictwo Uniwersytetu Ekonomicznego we Wrocławiu

Place of publication:

Wrocław

Date:

2018

Resource Type:

artykuł

Resource Identifier:

doi:10.15611/pn.2018.528.04 ; oai:dbc.wroc.pl:59314

Language:

pol

Relation:

Finanse publiczne ; Prace Naukowe Uniwersytetu Ekonomicznego we Wrocławiu = Research Papers of Wrocław University of Economics; 2018; Nr 528

Rights:

Pewne prawa zastrzeżone na rzecz Autorów i Wydawcy

Access Rights:

Dla wszystkich zgodnie z licencją

License:

CC BY-NC-ND 3.0 PL

Location:

Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Similar

×

Citation

Citation style:

This page uses 'cookies'. More information