Szyszka, Adam ; Paszkiewicz, Bogdan ; Paszkiewicz, Regina ; Tłaczała, Marek
Contributor:Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Subject and Keywords:optyka ; metal–semiconductor–metal (MSM) ; UV detector ; gallium nitride ; optical beam induced current (OBIC) ; scanning surface potential microscopy (SSPM)
Description:Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4, s. 723-728
Abstrakt: Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: