Tytuł:

Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Evmenova, Anna Z. ; Odarych, Volodymyr A. ; Sizov, Fedir F. ; Vuichyk, Mykola V.

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; ellipsometry ; passivation CdTe films ; methods of calculating film parameters

Opis:

Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3, s. 585-600

Abstrakt:

Ellipsometric detective method of refractive index, absorptive index and thickness of the film deposited on the substrate with some optical parameters has been developed. This method is applied for optical parameters and film thickness detecting in visible and near IR spectrum. Refraction index and film thickness dispersion has been studied. It has been determined that film refractive index (2.6 on average) is by 7% less than that of monocrystalline CdTe.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2008

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska