Tytuł:

Uncertainty of atomic force microscopy measurements

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Gotszalk, Teodor P. ; Janus, Paweł ; Marendziak, Andrzej ; Szeloch, Roman F.

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; uncertainty of measurement ; atomic force microscopy (AFM)

Opis:

Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4, s. 397-403

Abstrakt:

We consider the problem of uncertainty in geometrically linear measurements in scanning probe microscopy (SPM) represented by atomic force microscopy (AFM). The uncertainties under consideration are associated both with quantum phenomena in the space cantilever tip–sample surfaces and with effects of dynamic behavior of electronic and optic measurement and control systems. In our experiment, we have analyzed uncertainty of calibrated atomic force microscopy (C-AFM) measurement in two dimensions. Uncertainty of measurements has been estimated according to GUM procedure.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2007

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007 ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska