Object
Title: Computer simulation studies of roughness of thin films formed in the ion beam assisted deposition (IBAD) process
Creator:
Oleszkiewicz, Waldemar ; Romiszowski, Piotr
Contributor:
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Description:
Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 495-501
Abstrakt:
Publisher:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication:
Date:
Resource Type:
Resource Identifier:
Source:
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language:
Relation:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location:
Group publication title:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Sep 19, 2019
In our library since:
Sep 19, 2019
Number of object content hits:
32
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/140939
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Computer simulation studies of roughness of thin films formed in the ion beam assisted deposition (IBAD) process | Sep 19, 2019 |
Similar
Oleszkiewicz, Waldemar Romiszowski, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gan, K.B. Zahedi, E. Mohd Ali, M.A. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kosobutskyy, Petro Kovalchuk, Andrii Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Mroczka, Janusz Szczepanowski, Remigiusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Photoluminescence spectroscopy for the evaluation of band potential roughness of InGaN active layers
Kazlauskas, Karolis Jursenas, Saulius Miasojedovas, Saulius Pobedinskas, Paulius Tamulaitis, Gintautas Zukauskas, Arturas Ivanov, Vitalii Yu. Godlewski, Marek Skierbiszewski, Czesław Siekacz, Marcin Leszczyński, Michał Franssen, Gijs Perlin, Piotr Suski, Tadeusz Grzegory, Izabella Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zhenrong, Zheng Jing, Zhou Peifu, Gu Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gobi, Govindan Sastikumar, Dillibabu Balaji Ganesh, Athi Radhakrishnan, Thotta Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
