Tytuł:

Analysis of mounting induced strain in semiconductor structures by means of spatially resolved optical modulation techniques

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Pierściński, Kamil ; Piwoński, Tomasz ; Ochalski, Tomasz J. ; Kowalczyk, Emil ; Wawer, Dorota ; Bugajski, Maciej

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; electroreflectance ; mounting induced strain ; laser bar

Opis:

Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 605-610

Abstrakt:

A wide range of applications of high-power diode lasers is connected with the tendency towards device miniaturization resulting in increased power densities. To manage the thermal load, the chips or arrays of chips (the so-called laser lines or cm–bars) have to be mounted with low thermal resistance on a heat sink of high thermal conductivity. These measures potentially introduce mechanical strain and defects into the semiconductor chips affecting the parameters of laser emission, e.g., spectral position. The ability of optical modulation techniques to monitor spatial strain distribution along the devices was evaluated.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2005

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska