Tytuł:

Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Serafińczuk, Jarosław ; Pawlaczyk, Łukasz ; Podhorodecki, Artur ; Gaponenko, Nikolai ; Molchan, Igor ; Thompson, George

Współtwórca:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; PAA ; X-ray diffraction ; AFM ; SEM ; crystallization

Opis:

Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1, s. 127-134

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2020

Typ zasobu:

artykuł

Identyfikator zasobu:

doi:10.37190/oa200110

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska