Title:

Data driven reliability prediction based on accelerated life test results

Creator:

Maciejewski, Henryk

Contributor:

Biernat, Janusz. Promotor

Subject and Keywords:

reliability of computer hardware and integrated circuits ; accelerated life test ; accelerated deterioration test ; life distribution function ; life-stress model

Publisher:

Politechnika Wrocławska

Place of publication:

Wrocław

Date:

1997

Resource Type:

rozprawa doktorska

Language:

eng

Relation:

Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Rights Owner:

Własność autora

Location:

Politechnika Wrocławska

Coverage:

Opracowanie i udostępnienie materiałów przeprowadzono w ramach umowy nr BIBL/SP/0020/2024/02 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach programu Społeczna Odpowiedzialność Nauki II ; Digitalizację materiałów przeprowadzono w ramach umowy nr BIBL/SP/0020/2024/02 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach programu Społeczna Odpowiedzialność Nauki II