Title:

Problem odwrotny do scharakteryzowania układów cząstek przez inwersję modelów dla tęczy i krytycznego kąta rozproszenia = Particle systems characterization by rainbow and critical light scattering patterns inversion

Creator:

Krzysiek, Mariusz

Contributor:

Mroczka, Janusz. Promotor ; Onofri, Fabrice

Subject and Keywords:

rozproszenie światła ; kompozycja ; Lorenz-Mie theory ; physical optics approximation ; critical-angle ; problem odwrotny ; teoria Lorenza-Mie ; pomiar wielkości ; aproksymacja - optyka fizyczna ; multiphase flows ; refractometry ; bąbelki ; kąt krytyczny ; refraktometria ; light scattering ; bubbles ; przepływy wielofazowe ; composition ; inverse problem ; sizing

Abstrakt:

Praca zawiera nowo opracowaną technikę pomiarową, bazującą na zjawisku rozproszenia światła dla krytycznego kąta załamania. Pozwala na jednoczesne i natychmiastowe scharakteryzowanie rozkładu wielkości i względnego współczynnika załamania światła chmury bąbelków. W pracy przedstawiono 3 metody rozwiązania problemu odwrotnego. Przeprowadzone doświadczenia dla różnych zestawień cząstka/otaczające medium/powietrze/woda, powietrze/woda-etanol/woda/silikon, woda-etanol (silikon) pokazują wyraźnie wydajność i potencjał tej techniki

Publisher:

Politechnika Wrocławska

Date:

2009

Resource Type:

rozprawa doktorska

Format:

application/pdf

Source:

<sygn. PWr 343280> ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Własność autora