Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 2, s. 359-371
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa130215 ; oai:dbc.wroc.pl:39750
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Feb 13, 2018
74
66
https://dbc.wroc.pl/publication/44233
Edition name | Date |
---|---|
Testing passive surveillance terahertz imagers | Jan 16, 2019 |
Chrzanowski, Krzysztof Li, Xianmin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Hong Viet, Nguyen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Magiera, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja