Scanning electron microscopy examination of telecommunication single mode fiber splices
Tytuł publikacji grupowej: Autor:Hejna, Jan ; Ratuszek, Marek ; Majewski, Jacek ; Zakrzewski, Zbigniew
Współtwórca:Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Temat i słowa kluczowe:optyka ; single mode fibers ; fiber splices ; scanning electron microscopy ; backscattered electrons ; material contrast
Opis:Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4, s. 583-589
Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Format: Źródło:<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Powiązania:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału: