Bukowski, Roman J. ; Korte, Dorota
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 4, s. 817-828
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
5 kwi 2018
39
38
https://dbc.wroc.pl/publication/44947
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Perturbation calculus for eikonal application to analysis of the deflectional signal in photothermal measurements | 16 sty 2019 |
Bukowski, Roman J. Korte, Dorota Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Korte-Kobylińska, Dorota Bukowski, Roman J. Bodzenta, Jerzy Kochowski, Stanisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja