Object
No title
Resource Identifier:
Format:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Jun 29, 2018
Number of object content hits:
15
Number of object content views in PDF format
13
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/49548
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Moiré deflectometry as a method for measuring wave aberrations | Jan 16, 2019 |
Similar
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Richter, Dieter Gaj, Kazimierz. Redakcja
Klebe, Joachim Miesel, Kukt Gaj, Kazimierz. Redakcja
Schwider, J. Burow, R. Elbner, K. E. Föllmer, K. Grzanna, J. Spolaczyk, R. Wallburg, S. Merkel, K. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wnuczak, Eugeniusz Gaj, Kazimierz. Redakcja
Schwider, J. Elsner, K. E. Spolaczyk, R. Merkel, K. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wnuczak, Eugeniusz Gaj, Kazimierz. Redakcja
Klebe, Joachim Gaj, Miron. Redakcja
