Wing Fen, Yap ; Mat Yunus, W. Mahmood ; Yusof, Nor Azah
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4, s. 999-1013
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 21, 2019
Jan 21, 2019
82
https://dbc.wroc.pl/publication/96553
Edition name | Date |
---|---|
Optical properties of cross-linked chitosan thin film for copper ion detection using surface plasmonresonance technique | Jan 21, 2019 |
Vahed, Hamid Ghazanfari, Elham Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Pustelny, Tadeusz Ignac-Nowicka, Jolanta Opilski, Zbigniew Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Pistora, Jaromir Lesnak, Michal Vlasin, Ondrej Cada, Michal Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fitio, Volodymyr Yaremchuk, Iryna Bobitski, Yaroslav Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fu, Xiangyong Lu, Ying Huang, Xiaohui Hao, Congjing Wu, Baoqun Yao, Jianquan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Zha, Fengning Li, Jinsong Sun, Pengjie Wang, Xiumin Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Pustelny, Tadeusz Ignac-Nowicka, Jolanta Opilski, Zbigniew Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wu, Bin Wang, Qing-Kang Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja