Chrzanowski, Krzysztof ; Li, Xianmin
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3, s. 727-735
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010 ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 30, 2019
Jan 30, 2019
68
https://dbc.wroc.pl/publication/98192
Edition name | Date |
---|---|
Configuration of systems for testing thermal imagers | Jan 30, 2019 |
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gruhn, Wojciech
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Karolczak, Jerzy Gaj, Miron. Redakcja
Piotrowski, Tadeusz Tomaszewski, Daniel Węgrzecki, Maciej Malyutenko, Vladimir K. Tykhonov, Andrew M. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kulesza, Sławomir
Mikluc, Davorin L. Andrić, Milenko S. Mitrović, Srdjan T. Bondžulić, Boban P. Urbańczyk, Wacław. Redakcja