Obiekt

Tytuł: Problem odwrotny do scharakteryzowania układów cząstek przez inwersję modelów dla tęczy i krytycznego kąta rozproszenia = Particle systems characterization by rainbow and critical light scattering patterns inversion

Autor:

Krzysiek, Mariusz

Współtwórca:

Mroczka, Janusz. Promotor ; Onofri, Fabrice

Opis:

Praca zawiera nowo opracowaną technikę pomiarową, bazującą na zjawisku rozproszenia światła dla krytycznego kąta załamania. Pozwala na jednoczesne i natychmiastowe scharakteryzowanie rozkładu wielkości i względnego współczynnika załamania światła chmury bąbelków. W pracy przedstawiono 3 metody rozwiązania problemu odwrotnego. Przeprowadzone doświadczenia dla różnych zestawień cząstka/otaczające medium/powietrze/woda, powietrze/woda-etanol/woda/silikon, woda-etanol (silikon) pokazują wyraźnie wydajność i potencjał tej techniki

Wydawca:

Politechnika Wrocławska

Data wydania:

2009

Typ zasobu:

rozprawa doktorska

Identyfikator zasobu:

oai:dbc.wroc.pl:3707

Źródło:

<sygn. PWr 343280L/1> ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Własność autora

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2018-12-19

Data dodania obiektu:

2009-12-21

Liczba wyświetleń treści obiektu:

869

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

868

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/3834

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Obiekty

Podobne

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji