Filtry
  • Kolekcje
  • Publikacje grupowe
  • Typ pliku
  • Autor
  • Współtwórca
  • Temat i słowa kluczowe
  • Data wydania
  • Typ zasobu
  • Język

Szukana fraza: [Abstrakt = "Strong influence on impurity\-free vacancy enhanced disordering by the cap layer doping is studied on the InGaAs\/InP quantum well structure with a doped cap layer. The observations are consistent with intermixing experiments using both Si3N4 and SiO2 as encapsulation dielectric layers. The largest intermixing occurs in the n\-InP capped samples and is explained by the enhancement in out\-diffusion of positive ions by the built\-in electric field."]

Wyników: 1

Obiektów na stronie:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji