Szczuczyński, Damian Konrad ; Mroczka, Janusz
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 3, s. 521-531
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Feb 8, 2019
Feb 8, 2019
60
https://dbc.wroc.pl/publication/100657
Edition name | Date |
---|---|
Comparing the quality of solution of inverse problem in nephelometric and turbidimetric measurements | Feb 8, 2019 |
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Krzysiek, Mariusz Mroczka, Janusz. Promotor Onofri, Fabrice
Mroczka, Janusz Szczepanowski, Remigiusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Angelsky, Oleg V. Bogatyryova, Halina V. Polyanskii, Peter V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Dake Chasteen, Emily Onyeuku, Chisom Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Strzelecka, Joanna Bosek, Maciej Grzegorzewski, Bronisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kraszewski, Maciej Pluciński, Jerzy Urbańczyk, Wacław. Redakcja