Venhryn, B.Ya. ; Grygorchak, I.I. ; Kulyk, Yu.O. ; Mudry, S.I. ; Shvets, R.Ya.
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 1, s. 119-125
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
21 mar 2019
21 mar 2019
52
https://dbc.wroc.pl/publication/113955
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Porous structure of carbon-based materials studied by means of X-ray small angle scattering method | 21 mar 2019 |
Antropova, Tatiana Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Volkova, Anna V. Petrov, Dmitry V. Stolyar, Sergei V. Ermakova, Ludmila E. Sidorova, Marianna P. Yakovlev, Evgeny B. Drozdova, Irina A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Drozdova, Irina Antropova, Tatiana Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stádník, B. Jirásková, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Woźnicka, G. Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cojocaru, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cotos, J. M. Arias, J. Tobar, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja