Obiekt

Tytuł: Based on multi-layer gradient threshold CFRP plates defects detection system

Autor:

Feng, Yuxiang ; Guo, Wenjing ; Ju, Xiang

Współtwórca:

Popiołek-Masajada, Agnieszka. Redakcja

Opis:

Optica Applicata, Vol. 55, 2025, nr 2, s. 257-267 ; Optica Applicata is an international journal, published in a non-periodical form in the years 1971-1973 and quarterly since 1973. From the beginning of the year 2008, Optica Applicata is an Open Access journal available online via the Internet, with free access to the full text of articles serving the best interests of the scientific community. The journal is abstracted and indexed in: Chemical Abstracts, Compendex, Current Contents, Inspec, Referativnyj Zhurnal, SCI Expanded, Scopus, Ulrich’s Periodicals Directory ; kliknij tutaj, żeby przejść

Abstrakt:

Carbon fiber reinforced plastic (CFRP) is widely used in fields such as aircraft and construction due to its advantages of light weight, high hardness, wear and corrosion resistance. To quantitatively detect internal defects in CFRP panels, a THz reflective defect detection system was built. A defect analysis algorithm based on multi-layer gradient threshold is proposed. Based on the manufacturing process of CFRP, a THz wave echo function model for multi-layer CFRP structures was derived. A CFRP plate containing debonding defects and crack defects was trial produced, to obtain its THz time-domain spectrum. The experiment completed the reconstruction of THz two-dimensional images of CFRP plates. The test results show that three different depths of test data can be detected, and the calculated diameters of the debonding defect areas are 9.12, 9.86, and 9.93 mm, respectively, with a relative error mean of 3.63%. Crack defects can also be effectively identified, but the quality of their test images will decrease with increasing pre-embedded depth. The linearity between defect depth and testing frequency is 0.98, which verifies the possibility of quantitative calculation. The test results of power spectral density and defect depth show that it has good uniformity.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2025

Typ zasobu:

artykuł

Identyfikator zasobu:

doi:10.37190/oa/203754 ; oai:dbc.wroc.pl:141591

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 55, 2025 ; Optica Applicata, Vol. 55, 2025, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

6 lis 2025

Data dodania obiektu:

6 lis 2025

Liczba wyświetleń treści obiektu:

6

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/180429

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji