Mao, Zhuang ; Cao, Yiping ; Zhong, Lijun ; Cao, Senpeng
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1, s. 51-61
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Oct 16, 2017
46
40
https://dbc.wroc.pl/publication/41644
Edition name | Date |
---|---|
A method for improving the precision of on-line phase measurement profilometry | Jan 16, 2019 |
Yingchun, Wu Yiping, Cao Mingteng, Lu Kun, Li
Xu, Xingfen Cao, Yiping Chen, Cheng Cao, Senpeng Peng, Kuang Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sun, Song Cao, Yiping Chen, Cheng Fu, Guangkai Wang, Yapin Xu, Xingfen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rodríguez-Zurita, G. Vázquez-Castillo, J. F. Toto-Arellano, N. I. Calderón-Hernández, G. Barojas-Gutiérrez, E. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Zuo, Chao Chen, Qian Gu, Guohua Ren, Jianle Sui, Xiubao Zhang, Yuzhen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kaewon, Rapeepan Pawong, Chutchai Chitaree, Ratchapak Lertvanithphol, Tossaporn Bhatranand, Apichai Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kmet’, Arkady B. Muravsky, Leonid I. Voronyak, Taras I. Stasyshyn, Ihor V. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang