Du, Guangliang ; Wang, Minmin ; Zhou, Canlin ; Si, Shuchun ; Li, Hui ; Lei, Zhenkun ; Li, Yanjie
Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 2, s. 295-306
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Nov 6, 2017
55
47
https://dbc.wroc.pl/publication/41889
Edition name | Date |
---|---|
Improved method for phase wraps reduction in profilometry | Jan 16, 2019 |
Du, Guangliang Wang, Minmin Zhou, Canlin Si, Shuchun Li, Hui Lei, Zhenkun Li, Yanjie Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Liu, Tongchuan Zhou, Canlin Liu, Yepeng Si, Shuchun Lei, Zhenkun Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fu, Min Gao, Chengyong Wang, Xu’an Cui, Yuankai Dai, Shuwei Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jagoszewski, Eugeniusz Andruchow, Andrzej Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang
Li, Suning Zhu, Rihong Li, Jianxin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Chmelik, Radim Lovicar, Luděk Harna, Zdeněk Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jaglarz, Janusz Sanetra, Jerzy Cisowski, Jan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja