Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 3, s. 373-381
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa170304 ; oai:dbc.wroc.pl:39562
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
26 sie 2025
24 sty 2018
63
76
https://dbc.wroc.pl/publication/43782
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Reduction of the impact of emissivity on high temperature measurements in non-contact thermometric devices | 26 sie 2025 |
Lisiecka, Ewa Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja
Borkowska, Alina Wołczak, Bohdan Gaj, Miron. Redakcja