Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 3, s. 373-381
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa170304 ; oai:dbc.wroc.pl:39562
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
24 sty 2018
46
40
https://dbc.wroc.pl/publication/43782
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Reduction of the impact of emissivity on high temperature measurements in non-contact thermometric devices | 16 sty 2019 |
Lisiecka, Ewa Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja
Plokarz, Halina Ratajczyk, Florian Lisowska, Barbara Gaj, Miron. Redakcja