Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 2, s. 359-371
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa130215 ; oai:dbc.wroc.pl:39750
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
13 lut 2018
60
52
https://dbc.wroc.pl/publication/44233
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Testing passive surveillance terahertz imagers | 16 sty 2019 |
Chrzanowski, Krzysztof Li, Xianmin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Hong Viet, Nguyen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bohidar, Himadri B. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Peisert, J. Biegański, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kurzynowski, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dubik, A. Owsik, J. Sarzyński, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja