Obiekt

Tytuł: Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

16 sty 2019

Data dodania obiektu:

3 kwi 2018

Liczba wyświetleń treści obiektu:

104

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

102

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/44961

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji