Object
No title
Resource Identifier:
Format:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Apr 4, 2018
Number of object content hits:
12
Number of object content views in PDF format
4
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/45379
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| The Electronic Microbalance for Atomic Beam Density Measurements | Jan 16, 2019 |
Similar
Bartoszek, Dobrosława Fiutowski, Jacek Dohnalik, Tomasz Kawalec, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Suchanek, Katarzyna Cieślar, Katarzyna Olejniczak, Zbigniew Pałasz, Tadeusz Suchanek, Mateusz Dohnalik, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Collier, Guilhem Suchanek, Mateusz Wojna, Anna Cieslar, Katarzyna Palasz, Tadeusz Glowacz, Bartosz Olejniczak, Zbigniew Dohnalik, Tomasz
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Richter, Dieter Gaj, Kazimierz. Redakcja
Klebe, Joachim Miesel, Kukt Gaj, Kazimierz. Redakcja
Schwider, J. Burow, R. Elbner, K. E. Föllmer, K. Grzanna, J. Spolaczyk, R. Wallburg, S. Merkel, K. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wnuczak, Eugeniusz Gaj, Kazimierz. Redakcja
