Object
No title
Resource Identifier:
Format:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Oct 16, 2018
Number of object content hits:
17
Number of object content views in PDF format
15
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/78600
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| High precision reflectometer for surface layer characterization | Jan 16, 2019 |
Similar
Gumienny, Z. Misiewicz, J. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Misiewicz, J. Gumienny, Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Łątka, M. Jezierski, K. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Jezierski, K. Kisiel, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Szatkowski, J. Sierański, K. Misiewicz, J. Mirowska, N. Królicki, F. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Podhorodecki, Artur Andrzejewski, Janusz Motyka, Marcin Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Wójcik, Jacek Robinson, Brad J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zatryb, G. Podhorodecki, A. Misiewicz, J. Nauka, K. Gaj, Miron. Redakcja
Puzewicz, Z. Mierczyk, Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja
