Liu, Bin ; Tian, Huiping ; Lu, Hui ; Ji, Yuefeng
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3, s. 657-668
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010 ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
30 sty 2019
30 sty 2019
45
https://dbc.wroc.pl/publication/98097
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Nonlinearity-controllable all-optical logic gates based on broadband defect mode | 30 sty 2019 |
Shen, Hongjun Tian, Huiping Ji, Yuefeng Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Hui, Juanli Lu, Keqing Zhao, Chong Gao, Lixu Chen, Weijun Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Baraket, Zina Zaghdoudi, Jihene Kanzari, Mounir Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Yang, Daquan Wang, Xueying Tian, Huiping Ji, Yuefeng Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Baraket, Zina Zaghdoudi, Jihene Kanzari, Mounir Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wu, Zhenhai Xie, Kang Yang, Huajun He, Xiujun
Cojocaru, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gharaati, Abdolrasoul Mohamadebrahimi, Leila Roozitalab, Zahra Urbańczyk, Wacław. Redakcja