Chrzanowski, Krzysztof ; Hong Viet, Nguyen
Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 4, s. 671-688
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.37190/oa200413 ; oai:dbc.wroc.pl:109555
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
30 cze 2025
12 kwi 2021
229
https://dbc.wroc.pl/publication/151518
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Virtual MRTD – an indirect method to measure MRTD of thermal imagers using computer simulation | 30 cze 2025 |
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Li, Xianmin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Zipser, Jan M.
Strulak-Wójcikiewicz, Roma Łatuszyńska, Małgorzata Mercik, Jacek Wiesław. Redakcja Ostasiewicz, Walenty. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja