Tian, Zixia ; Chen, Wenjing ; Su, Xianyu
Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 291-303
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa160213 ; oai:dbc.wroc.pl:37781
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Oct 19, 2017
105
112
https://dbc.wroc.pl/publication/41742
Edition name | Date |
---|---|
Method for improving sinusoidal quality of error diffusion binary encoded fringe used in phase measurement profilometry | Jan 16, 2019 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja
Plokarz, Halina Ratajczyk, Florian Lisowska, Barbara Gaj, Miron. Redakcja