Szeloch, Roman F. ; Gotszalk, Teodor Paweł ; Janus, Paweł
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4, s. 669-676
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 5, 2018
33
32
https://dbc.wroc.pl/publication/44750
Edition name | Date |
---|---|
Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy | Jan 16, 2019 |
Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja
Sikora, Andrzej Janus, Paweł Sierakowski, Andrzej Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Ramiączek-Krasowska, Maria Szyszka, Adam Prażmowska, Joanna Paszkiewicz, Regina Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Grodzicki, Miłosz Chrzanowski, Jan Mazur, Piotr Zuber, Stefan Ciszewski, Antoni Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kusz, Bogusław Trzebiatowski, Konrad Gazda, Maria Murawski, Leon Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wysocka, Katarzyna Ulatowska-Jarża, Agnieszka Bauer, Joanna Hołowacz, Iwona Savu, Bogdan Stanciu, George Podbielska, Halina Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Serafińczuk, Jarosław Pawlaczyk, Łukasz Podhorodecki, Artur Gaponenko, Nikolai Molchan, Igor Thompson, George Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Ramiączek-Krasowska, Maria Szyszka, Adam Stafiniak, Andrzej Paszkiewicz, Regina Paszkiewicz, Bogdan Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja