Palchikova, I. G. ; Smirnov S. V.
Gaj, Kazimierz. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 2-3, s. 203-211
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000 ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
23 mar 2018
63
70
https://dbc.wroc.pl/publication/45103
| Edition name | Date |
|---|---|
| Limitations of diffraction measurements by means of axicons | 16 sty 2019 |
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja
Borkowska, Alina Wołczak, Bohdan Gaj, Miron. Redakcja
Marczuk, Krystyna Gaj, Miron. Redakcja