Evmenova, Anna Z. ; Odarych, Volodymyr A. ; Sizov, Fedir F. ; Vuichyk, Mykola V.
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3, s. 585-600
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 25, 2019
Mar 25, 2019
63
https://dbc.wroc.pl/publication/114927
Edition name | Date |
---|---|
Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method | Mar 25, 2019 |
Pištora, Jaromir Yamaguchi, Tomuo Vlćek, Jaroslav Mistrik, Jan Horie, Masahiro Smatko, Vasilij Kováčová, Eva Postava, Kamil Aoyama, Mitsuru Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Shamiryan, Denis Baklanov, Mikhail R. Yanovitskaya, Zoya S. Zverev, Alexey V. Tõkei, Zsolt Iacopi, Francesca Maex, Karen Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Taya, Sofyan A. Abu Nasr, Mustafa H. El-Agez, Taher M. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jaglarz, Janusz Wyszyński, Dominik Lach, Michał Mikuła, Janusz Duraj, Ryszard Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Evmenova, Anna Odarych, Volodymyr Vuichyk, Mykola
El-Agez, Taher Taya, Sofyan El Tayyan, Ahmed Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kijaszek, Wojciech Oleszkiewicz, Waldemar Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja