Evmenova, Anna ; Odarych, Volodymyr ; Vuichyk, Mykola
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3, s. 667-675
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 15, 2019
Nov 30, 2018
77
89
https://dbc.wroc.pl/publication/90961
| Edition name | Date |
|---|---|
| Ellipsometric investigation of CdTe films | Jan 15, 2019 |
Evmenova, Anna Z. Odarych, Volodymyr A. Sizov, Fedir F. Vuichyk, Mykola V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kyselak, Martin Dvorak, Filip Maschke, Jan Vlcek, Cestmir Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja