Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Effective characteristic matrix of ultrathin multilayer structures
Pobierz

Tytuł: Effective characteristic matrix of ultrathin multilayer structures

Autor:

Haija, A. J. ; Freeman, W. Larry ; Roarty, Thomas

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja

Opis:

Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 1, s. 39-50

Abstrakt:

This paper presents the calculation of the reflectivity, transmissivity and optical constants of ultrathin Cu-Ni multilayer stacks using the characteristic effective medium approximation (CEMA) introduced in an earlier communication. Each of the Cu-Ni multilayer stacks has an identity period of 100 A, Cu – 45 A and Ni – 55 A. Calculations of the reflectivity and transmissivity are executed via the characteristic matrix technique employed in three ways. In the first the characteristic matrix of the Cu-Ni bilayer is calculated and then raised to a power equal to the number of layers in the stack following the characteristic matrix technique. The second is based on the calculation of the characteristic matrix of the bilayer identity period using the effective complex index of refraction of the identity period as derived according to the CEMA. The third is based on the equivalent characteristic matrix of the whole stack represented by one characteristic matrix, also using the CEMA; in this method the equivalent optical constants of the layered structure are also calculated. All calculations are in the visible and for normal incidence. A comparison between results of the first two methods of calculations shows that they are almost identical. However, displaying values using the equivalent effective matrix of the whole structure shows definite quantitative differences throughout the whole studied spectral range. The difference becomes rather noticeable when the number of layers is greater than or equal to six amounting to a minimum total thickness of 600 A for the layered stack as a whole. This establishes a quantitative criterion to the limit beyond which the CEMA cannot be applied.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2006

Typ zasobu:

artykuł

Identyfikator zasobu:

oai:dbc.wroc.pl:63414

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Temat i słowa kluczowe:

optyka multilayers superlattices bilayer stacks

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2 kwi 2019

Data dodania obiektu:

2 kwi 2019

Liczba wyświetleń treści obiektu:

94

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/117345

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Effective characteristic matrix of ultrathin multilayer structures 2 kwi 2019

Podobne

Optica Applicata
Optica Applicata

Analysis of the optical properties of thin films using the transmission line method

Abu El-Haija, A. J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja

1997
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Propagation of polarized light through optical nanosuperlattices

Tarnowski, Karol Salejda, Włodzimierz Tyc, Michał H. Gaj, Miron. Redakcja

2007
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Basic optical properties: effective optical constants, skin depth, absorption coefficients and optical conductivity of an ultrathin Ag-SiO superlattice identity period

Abu El-Haija, A. J. Mahjid, A. H. Wishah, K. A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja

2001
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Design and construction of a microcomputer based interface/controller to drive and process spectrophotometer data

Yousef, Y. A. Shaderma, M. M. Abu-Hassan, L. H. Abu El-Haija, A. J. Rousan, A. A. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja

1996
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Multiple omnidirectional reflection bands from half-wave layered periodic structures

Cojocaru, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja

2005
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Plasmon excitation in periodic multilayers: modeling by boundary integral equations

Zidek, Arnost Vlcek, Jaroslav Krcek, Jiri Urbańczyk, Wacław. Redakcja

2012
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy

Kucharska, Barbara Kulej, Edyta Kanak, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja

2009
artykuł
Optica Applicata
Optica Applicata

Sur la forme relativiste des conditions du stigmatisme parfait

Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja

1984
czasopismo
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Politechnika Wrocławska (Koordynator Konsorcjum DBC)
Biblioteka Politechniki Wrocławskiej
Wybrzeże Wyspiańskiego 27
50-370 Wrocław, Polska

Telefon

(+48) 71-320-38-30
(+48) 71-320-47-50

E-Mail

bc@pwr.edu.pl

Odwiedź nas!

https://biblioteka.pwr.edu.pl/

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji